JEDEC協(xié)會近日宣布，其發(fā)布的DDR5串行存在檢測（SPD）年度標(biāo)準(zhǔn)迎來重要更新，最新版本被確定為JESD400-5D規(guī)范1.4版。此次更新針對DDR5內(nèi)存技術(shù)發(fā)展需求，新增三項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)支持，旨在提升內(nèi)存模塊的兼容性與可靠性。

更新內(nèi)容中，最引人注目的是對DDR5-9200超高頻內(nèi)存的支持?jǐn)U展。該技術(shù)通過優(yōu)化SPD編碼機(jī)制，使內(nèi)存模塊能夠更精準(zhǔn)地匹配高速傳輸場景下的時(shí)序參數(shù)，從而解決高頻內(nèi)存在實(shí)際應(yīng)用中可能出現(xiàn)的兼容性問題。與此同時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)新增的SOCAMM2編碼體系進(jìn)一步強(qiáng)化了內(nèi)存模塊的物理層設(shè)計(jì)規(guī)范，為下一代模塊化內(nèi)存架構(gòu)提供了標(biāo)準(zhǔn)化接口。

在錯(cuò)誤管理方面，更新后的規(guī)范擴(kuò)充了MRDIMM（帶內(nèi)存緩沖的雙列直插內(nèi)存模塊）的錯(cuò)誤日志功能。通過細(xì)化錯(cuò)誤分類與記錄機(jī)制，系統(tǒng)能夠更高效地追蹤內(nèi)存子系統(tǒng)中的潛在故障，為數(shù)據(jù)中心等關(guān)鍵應(yīng)用場景提供更可靠的故障診斷依據(jù)。這項(xiàng)改進(jìn)直接響應(yīng)了行業(yè)對內(nèi)存穩(wěn)定性的嚴(yán)苛要求。

JEDEC董事會主席米安·庫杜斯在聲明中強(qiáng)調(diào)，隨著DDR5內(nèi)存技術(shù)以更高傳輸速率和更復(fù)雜的模塊配置在市場中普及，標(biāo)準(zhǔn)化工作必須保持同步迭代。他特別指出，本次年度更新凝聚了全球主要內(nèi)存供應(yīng)商的技術(shù)共識，通過統(tǒng)一SPD參數(shù)定義和測試規(guī)范，有效避免了不同廠商產(chǎn)品間的兼容性風(fēng)險(xiǎn)，為構(gòu)建可靠的內(nèi)存生態(tài)系統(tǒng)奠定基礎(chǔ)。

此次標(biāo)準(zhǔn)更新被視為DDR5技術(shù)成熟化的重要標(biāo)志。行業(yè)分析師指出，新增的技術(shù)特性不僅提升了內(nèi)存模塊的性能上限，更通過標(biāo)準(zhǔn)化手段降低了系統(tǒng)集成商的測試成本，預(yù)計(jì)將加速DDR5內(nèi)存向企業(yè)級服務(wù)器、高性能計(jì)算等領(lǐng)域的滲透。