在VR產(chǎn)品全面采用Pancake光學(xué)方案的背景下，透鏡及結(jié)構(gòu)件的尺寸精度要求顯著提升，傳統(tǒng)檢測手段因效率與穩(wěn)定性不足，已成為制約生產(chǎn)良率與成本控制的瓶頸。光子精密近日推出QM系列閃測儀，通過高頻次、高重復(fù)性的尺寸測量技術(shù)，為Pancake模組的核心制程提供數(shù)據(jù)支撐，助力工藝優(yōu)化與質(zhì)量控制。

針對納米壓印透鏡的在線檢測需求，QM閃測儀展現(xiàn)了顯著優(yōu)勢。納米壓印作為高速連續(xù)工藝，傳統(tǒng)影像測量儀因速度慢、抽樣頻率低，難以避免批量性尺寸偏差風(fēng)險。而透鏡的定位孔位置度與光學(xué)中心偏移量直接影響模組裝配精度，手動測量則存在重復(fù)性差、數(shù)據(jù)不可靠等問題。QM閃測儀通過部署于壓印產(chǎn)線質(zhì)檢環(huán)節(jié)，利用大景深鏡頭與高分辨率相機(jī)，實現(xiàn)單次拍攝覆蓋上千工件圖像。其預(yù)置測量程序可在3秒內(nèi)自動完成外輪廓尺寸、定位孔徑、中心偏移量等關(guān)鍵參數(shù)的識別與計算，大幅降低尺寸偏差風(fēng)險。

在注塑鏡筒的批量檢測場景中，QM閃測儀同樣突破了傳統(tǒng)方法的局限。鏡筒的透鏡安裝槽同心度、槽間距及結(jié)構(gòu)孔位精度直接影響光學(xué)對準(zhǔn)效果，而傳統(tǒng)測量方式效率低下，無法滿足海量生產(chǎn)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計過程控制需求。QM閃測儀憑借大視野與批量識別功能，單次可同時測量多個鏡筒的所有尺寸，并自動執(zhí)行坐標(biāo)系擬合與特征識別，直接輸出同心度、位置度、間距等形位公差結(jié)果，為成像質(zhì)量提供保障。

研發(fā)驗證與來料檢驗環(huán)節(jié)的效率提升，是QM閃測儀的另一大亮點。研發(fā)階段樣件尺寸驗證周期長，外協(xié)結(jié)構(gòu)件來料檢驗耗時，均制約著設(shè)計迭代與物料流轉(zhuǎn)速度。QM閃測儀通過建立標(biāo)準(zhǔn)化檢測模板，支持一鍵換型，工件無需精密定位即可放置于測量臺，系統(tǒng)自動完成識別、定位與測量，顯著縮短了檢測周期，提升了生產(chǎn)靈活性。

QM系列閃測儀的技術(shù)特性，不僅體現(xiàn)在檢測速度與數(shù)據(jù)一致性上，更通過批量處理能力重構(gòu)了尺寸檢測標(biāo)準(zhǔn)。其在線實時攔截不良品的功能，可降低Pancake透鏡模組的尺寸報廢率，減少返工與復(fù)測成本；檢測環(huán)節(jié)的人力資源優(yōu)化，則使人員得以重新分配至更高價值的分析崗位。通過SPC系統(tǒng)的數(shù)據(jù)沉淀，工藝決策從“經(jīng)驗驅(qū)動”轉(zhuǎn)向“數(shù)據(jù)驅(qū)動”，為未來新產(chǎn)品的精度要求提供了技術(shù)儲備。相較于傳統(tǒng)方法，QM閃測儀在檢測效率、數(shù)據(jù)可靠性與批量處理能力上的優(yōu)勢，已成為Pancake產(chǎn)品制造中尺寸檢測的優(yōu)選方案。